Çiğ noktası ölçerinin çalışma prensibi
1. Soğuk ayna çiğ noktası ölçer
Farklı su içeriğine sahip gazlar, farklı sıcaklıklarda yüzeye çıkar. Çiğ noktası, çiğ tabakasını algılayan ve çiğ yüzeye maruz kaldığında sıcaklığı ölçen fotoelektrik algılama teknolojisi ile doğrudan gösterilir. Ayna soğutma yöntemleri şunlardır: yarı iletken soğutma, sıvı azot soğutma ve yüksek basınçlı hava soğutma. Soğuk aynalı çiğ noktası higrometresi, doğrudan ölçüm yöntemidir. Çiğ noktası tespitinin doğruluğunu, ayna soğutmasının yüksek verimliliğini ve çiğ noktası sıcaklığının hassas ölçümünü sağlamak koşuluyla standart bir çiğ noktası higrometresi olarak kullanılabilir.
2. Elektrikli sensörlü çiğ noktası ölçer
Hidrofilik veya hidrofobik bir malzeme, kapasitans veya direnç oluşturmak için bir ortam olarak kullanılır ve su içeren gazın dielektrik sabiti veya iletkenliği, su içeren gazdan geçtikten sonra buna bağlı olarak değişir; bu sırada kapasitans değeri veya direnç değeri ölçülebilir ve o sırada gazın nem içeriği belirlenebilir. Çiğ noktası ünitesi sistemi üzerine tasarlanan bu tür bir sensör, elektrikli bir çiğ noktası analizörü oluşturur.
3. Elektrikli yöntem çiğ noktası ölçer
Elektrokimyasal mikro nem analizörü, fosfor pentoksit ve diğer maddeleri emdikten sonra polar moleküllere ayrışarak elektrot üzerinde yük birikiminin özelliklerinden yararlanılarak, mutlak nem içeriği birimi sistemine dayalı olarak tasarlanmıştır. Şu anda, dünyadaki en yüksek hassasiyet ±1,0°C'ye (çiğlenme noktası sıcaklığı) ulaşabilmekte, genel hassasiyet ise ±3°C'ye ulaşabilmektedir. Bu yöntem yüksek derecede temiz gaz gerektirir ve aşındırıcı gazları ölçebilir. Almanya'da bir şirket bunu gerçekleştirmiştir ve yurt içi uygulaması azdır.
4. Kristal salınımlı çiğ noktası ölçer
Islatma işleminden sonra kristalin salınım frekansı değiştirilebilir. Salınımlı çiğ noktası ölçer tasarlanabilir. Bu, henüz olgunlaşmamış bir aşamada olan nispeten yeni bir teknolojidir. Yurtdışında ilgili ürünler mevcuttur, ancak hassasiyetleri düşüktür ve maliyetleri yüksektir. Chang'ai Co.'nun CI-PC36 ve GEN-25 modelleri buna örnek verilebilir.
5. Kızılötesi çiğ noktası
Kızılötesi çiğ noktası ölçüm cihazı, gazdaki nemin kızılötesi spektruma emilimi prensibiyle tasarlanabilir. Şu anda, cihazın düşük çiğ noktalarını ölçmesi zordur; bunun başlıca nedeni, kızılötesi dedektörün tepe algılama oranının mikro su emilimi seviyesine ulaşamaması ve gazdaki diğer bileşenlerin kızılötesi spektrum emilimine müdahale etmesidir. Bununla birlikte, bu, çevresel gazın nem içeriğinin temassız çevrimiçi izlenmesi için büyük önem taşıyan yeni bir teknolojidir.
6. Yarı iletken sensörlü çiğ noktası ölçer
Her su molekülünün kendine özgü doğal bir titreşim frekansı vardır; yarı iletken kafesin boşluğuna girdiğinde, yük uyarımına maruz kalan kafesle bir rezonans oluşturur ve bu rezonans frekansı suyun molar sayısıyla orantılıdır. Su molekülünün rezonansı, yarı iletken eklemin serbest elektron yaymasını sağlayarak kafesin iletkenliğini artırır ve empedansı azaltır. Bu özelliğe sahip bir yarı iletken çiğ noktası ölçer ile -100°C çiğ noktası nem içeriği ölçülebilir.
Teknolojik ilerlemenin kapsamlı değerlendirmesi
Modern bilim ve teknolojinin gelişmesiyle birlikte, insanlar gazdaki nemin ölçümünde fotoelektrik teknolojisi, yeni malzeme teknolojisi, kızılötesi teknolojisi, mikrodalga teknolojisi, mikroelektronik teknolojisi, optik fiber teknolojisi, akustik dalga teknolojisi ve hatta nanoteknoloji gibi yöntemleri uygulamaya koyarak, eski nem ölçüm alanını yeni bir boyuta taşıdılar.
Gazdaki eser miktardaki nemin ölçümü zor bir tekniktir. Şu ana kadar, çeşitli çalışma koşulları altında mikro nem ölçümü sorununu çözecek olgun ve mükemmel bir teknik araç dünyada mevcut değildir. Modern teknolojinin uygulanmasından sonra, ancak belirli bir ortam için, belirli bir teknik araç kullanılarak belirli bir derecede (aralık ve hassasiyet dahil) mikro nem ölçümünün çözülebileceği söylenebilir. Bu nedenle, mikro nem ölçüm teknolojisinin gelişme potansiyeli çok geniştir ve profesyonel teknisyenlerin kat etmesi gereken uzun bir yol vardır.
